-
1 магнитная линза электронного микроскопа
магнитная линза электронного микроскопа
магнитная линза
Электронная линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных пучков магнитным полем.
[ ГОСТ 21006-75]Тематики
Обобщающие термины
Синонимы
EN
DE
12. Магнитная линза электронного микроскопа
Магнитная линза
D. Magnetische Linse
E. Magnetic lens
-
Электронная линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных пучков магнитным полем
Источник: ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа
Русско-немецкий словарь нормативно-технической терминологии > магнитная линза электронного микроскопа
-
2 магнитная линза электронного микроскопа
магнитная линза электронного микроскопа
магнитная линза
Электронная линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных пучков магнитным полем.
[ ГОСТ 21006-75]Тематики
Обобщающие термины
Синонимы
EN
DE
12. Магнитная линза электронного микроскопа
Магнитная линза
D. Magnetische Linse
E. Magnetic lens
-
Электронная линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных пучков магнитным полем
Источник: ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа
Русско-английский словарь нормативно-технической терминологии > магнитная линза электронного микроскопа
-
3 magnetic lens
магнитная линза
—
[Я.Н.Лугинский, М.С.Фези-Жилинская, Ю.С.Кабиров. Англо-русский словарь по электротехнике и электроэнергетике, Москва, 1999 г.]Тематики
- электротехника, основные понятия
EN
магнитная линза ускорителя
Устройство, предназначенное для фокусировки или дефокусировки пучка заряженных частиц магнитным полем.
[ ГОСТ Р 52103-2003]Тематики
EN
магнитная линза электронного микроскопа
магнитная линза
Электронная линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных пучков магнитным полем.
[ ГОСТ 21006-75]Тематики
Обобщающие термины
Синонимы
EN
DE
12. Магнитная линза электронного микроскопа
Магнитная линза
D. Magnetische Linse
E. Magnetic lens
-
Электронная линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных пучков магнитным полем
Источник: ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа
Англо-русский словарь нормативно-технической терминологии > magnetic lens
-
4 magnetische Linse
магнитная линза электронного микроскопа
магнитная линза
Электронная линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных пучков магнитным полем.
[ ГОСТ 21006-75]Тематики
Обобщающие термины
Синонимы
EN
DE
12. Магнитная линза электронного микроскопа
Магнитная линза
D. Magnetische Linse
E. Magnetic lens
-
Электронная линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных пучков магнитным полем
Источник: ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа
Немецко-русский словарь нормативно-технической терминологии > magnetische Linse
-
5 Linse
f <-, -n>1) чечевица2) опт линза3) разг объектив фотоаппаратаj-n / etw. (A) vor die Línse bekómmen* (s, h) — поймать кого-л / что-л в объектив
4) мед хрусталик (глаза)5) физ, тех (электрическая, магнитная) линза (напр электронного микроскопа)6) сокр от Kontaktlinse контактная линза7) геол линза (геологическое тело чечевицеобразной формы)8) pl разг монеты -
6 сканирующий электронный микроскоп
(SEM)Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется сфокусированным электронным пучком средних энергий. В зависимости от механизма регистрации сигнала различают несколько режимов работы сканирующего электронного микроскопа: режим отражённых электронов, режим вторичных электронов, режим катодолюминесценции и т. д. Разработанные методики позволяют исследовать не только свойства поверхности образца, но и визуализировать и получать информацию о свойствах подповерхностных структур.
Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Электроны, идущие от источника, ускоряются и фокусируются в узкий пучок на образце. Этот пучок перемещается по образцу отклоняющими катушками с током. Детекторы, расположенные выше образца, регистрируют рентгеновское излучение, вторичные и отраженные электроны. Электроны, прошедшие сквозь тонкий образец, регистрируются кольцевым детектором или, пройдя через энергетический анализатор, используются для формирования изображения на экране. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – магнитная линза; 4 – отклоняющие катушки; 5 – образец; 6 – детектор отраженных электронов; 7 – кольцевой детектор; 8 – анализатор.Англо-русский словарь по нанотехнологиям > сканирующий электронный микроскоп
-
7 scanning electron microscope
(SEM)Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется сфокусированным электронным пучком средних энергий. В зависимости от механизма регистрации сигнала различают несколько режимов работы сканирующего электронного микроскопа: режим отражённых электронов, режим вторичных электронов, режим катодолюминесценции и т. д. Разработанные методики позволяют исследовать не только свойства поверхности образца, но и визуализировать и получать информацию о свойствах подповерхностных структур.Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Электроны, идущие от источника, ускоряются и фокусируются в узкий пучок на образце. Этот пучок перемещается по образцу отклоняющими катушками с током. Детекторы, расположенные выше образца, регистрируют рентгеновское излучение, вторичные и отраженные электроны. Электроны, прошедшие сквозь тонкий образец, регистрируются кольцевым детектором или, пройдя через энергетический анализатор, используются для формирования изображения на экране. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – магнитная линза; 4 – отклоняющие катушки; 5 – образец; 6 – детектор отраженных электронов; 7 – кольцевой детектор; 8 – анализатор.Англо-русский словарь по нанотехнологиям > scanning electron microscope
-
8 сканирующий электронный микроскоп
(SEM)Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется сфокусированным электронным пучком средних энергий. В зависимости от механизма регистрации сигнала различают несколько режимов работы сканирующего электронного микроскопа: режим отражённых электронов, режим вторичных электронов, режим катодолюминесценции и т. д. Разработанные методики позволяют исследовать не только свойства поверхности образца, но и визуализировать и получать информацию о свойствах подповерхностных структур.Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Электроны, идущие от источника, ускоряются и фокусируются в узкий пучок на образце. Этот пучок перемещается по образцу отклоняющими катушками с током. Детекторы, расположенные выше образца, регистрируют рентгеновское излучение, вторичные и отраженные электроны. Электроны, прошедшие сквозь тонкий образец, регистрируются кольцевым детектором или, пройдя через энергетический анализатор, используются для формирования изображения на экране. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – магнитная линза; 4 – отклоняющие катушки; 5 – образец; 6 – детектор отраженных электронов; 7 – кольцевой детектор; 8 – анализатор.Russian-English dictionary of Nanotechnology > сканирующий электронный микроскоп
-
9 scanning electron microscope
(SEM)Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ)Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется сфокусированным электронным пучком средних энергий. В зависимости от механизма регистрации сигнала различают несколько режимов работы сканирующего электронного микроскопа: режим отражённых электронов, режим вторичных электронов, режим катодолюминесценции и т. д. Разработанные методики позволяют исследовать не только свойства поверхности образца, но и визуализировать и получать информацию о свойствах подповерхностных структур.Сканирующий (растровый) электронный микроскоп Электроны, идущие от источника, ускоряются и фокусируются в узкий пучок на образце. Этот пучок перемещается по образцу отклоняющими катушками с током. Детекторы, расположенные выше образца, регистрируют рентгеновское излучение, вторичные и отраженные электроны. Электроны, прошедшие сквозь тонкий образец, регистрируются кольцевым детектором или, пройдя через энергетический анализатор, используются для формирования изображения на экране. 1 – источник электронов; 2 – ускоряющая система; 3 – магнитная линза; 4 – отклоняющие катушки; 5 – образец; 6 – детектор отраженных электронов; 7 – кольцевой детектор; 8 – анализатор.Russian-English dictionary of Nanotechnology > scanning electron microscope
См. также в других словарях:
магнитная линза электронного микроскопа — магнитная линза Электронная линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных пучков магнитным полем. [ … Справочник технического переводчика
Магнитная линза электронного микроскопа — 12. Магнитная линза электронного микроскопа Магнитная линза D. Magnetische Linse E. Magnetic lens Электронная линза электронного микроскопа, предназначенная для фокусировки электронных пучков магнитным полем Источник: ГОСТ 21006 75: Микроскопы… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
ГОСТ 21006-75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения — Терминология ГОСТ 21006 75: Микроскопы электронные. Термины, определения и буквенные обозначения оригинал документа: 12. V образный катод Нрк. Шпилькообразный катод Катод, изготовленный из проволоки, согнутой под острым углом, вершина которого… … Словарь-справочник терминов нормативно-технической документации
ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП — прибор, который позволяет получать сильно увеличенное изображение объектов, используя для их освещения электроны. Электронный микроскоп (ЭМ) дает возможность видеть детали, слишком мелкие, чтобы их мог разрешить световой (оптический) микроскоп.… … Энциклопедия Кольера
ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП — прибор для наблюдения и фотографирования многократно (до 106 раз) увеличенного изображения объекта, в к ром вместо световых лучей используются пучки электронов, ускоренных до больших энергий (30 1000 кэВ и более) в условиях глубокого вакуума. Физ … Физическая энциклопедия
Электронная и ионная оптика — наука о поведении пучков электронов и ионов в вакууме под воздействием электрических и магнитных полей. Т. к. изучение электронных пучков началось ранее, чем ионных, и первые используют гораздо шире, чем вторые, весьма распространён… … Большая советская энциклопедия
Электронный микроскоп — прибор для наблюдения и фотографирования многократно (до 106 раз) увеличенного изображения объектов, в котором вместо световых лучей используются пучки электронов, ускоренных до больших энергий (30 100 кэв и более) в условиях глубокого… … Большая советская энциклопедия
сканирующий электронный микроскоп — Scanning Electron Microscope (SEM) Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется… … Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии. - М.
scanning electron microscope — Scanning Electron Microscope (SEM) Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) Прибор, позволяющий получать изображения поверхности образца с большим разрешением (менее микрометра). Исследуемый образец в условиях вакуума сканируется… … Толковый англо-русский словарь по нанотехнологии. - М.
